華高儀器于 2025 年 08月 29 日發(fā)布了文章【島津超聲波光學(xué)探傷儀 MIV-X：近表面缺陷可視化檢測(cè)新選擇】。作為在儀器設(shè)備行業(yè)服務(wù)了多年的經(jīng)銷商，華高儀器有著專業(yè)的儀器銷售團(tuán)隊(duì)以及售后服務(wù)人員，在采購前期能給客戶一套專業(yè)完善的采購方案以及及時(shí)響應(yīng)的售后服務(wù)。

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在材料檢測(cè)領(lǐng)域，近表面及內(nèi)部隱藏缺陷的識(shí)別一直是關(guān)鍵需求，傳統(tǒng)檢測(cè)方式常面臨難以覆蓋特定區(qū)域、操作復(fù)雜等問題。島津推出的超聲波光學(xué)探傷儀 MIV-X，依托光學(xué)成像技術(shù)，將超聲波振子與頻閃觀測(cè)器相結(jié)合，為材料缺陷檢測(cè)提供了新的思路，尤其在傳統(tǒng)超聲檢測(cè)難以觸及的領(lǐng)域展現(xiàn)出價(jià)值。

1. 核心技術(shù)：光學(xué)成像技術(shù)支撐

島津超聲波光學(xué)探傷儀 MIV-X 的核心優(yōu)勢(shì)源于其光學(xué)成像技術(shù)。該技術(shù)通過激勵(lì)試樣表面，再以光學(xué)方式檢測(cè)表面位移，從而清晰觀測(cè)超聲波在試樣表面的傳播情況。具體來看，儀器在試樣表面使用超聲波振蕩器產(chǎn)生振動(dòng)，當(dāng)超聲波在材料內(nèi)部傳輸時(shí)，表面產(chǎn)生的微小位移會(huì)通過激光照射與光學(xué)相機(jī)捕捉并實(shí)現(xiàn)可視化，工作人員可根據(jù)超聲波傳播的間斷情況，定位材料內(nèi)部的缺陷位置，讓原本難以察覺的隱藏問題直觀呈現(xiàn)。

2. 操作特性：簡(jiǎn)便易上手，降低檢測(cè)門檻

不同于部分檢測(cè)設(shè)備需要專業(yè)人員長時(shí)間學(xué)習(xí)操作，MIV-X 能讓任何人快速、簡(jiǎn)單地執(zhí)行視覺表面檢查，大幅降低了檢測(cè)操作的門檻。

操作流程簡(jiǎn)化：工作人員只需將超聲波振蕩器放置在樣品上，隨后調(diào)整相機(jī)位置，短時(shí)間內(nèi)儀器就能顯示出超聲波的傳輸情況，從生成的視頻中可輕松識(shí)別缺陷所在，無需復(fù)雜的前期準(zhǔn)備步驟。

軟件功能實(shí)用：儀器配套軟件功能豐富且操作簡(jiǎn)單，不僅能實(shí)現(xiàn)缺陷標(biāo)記，還支持尺寸測(cè)量等功能，進(jìn)一步增強(qiáng)了檢測(cè)過程中的數(shù)據(jù)記錄與分析能力，滿足檢測(cè)過程中的基礎(chǔ)功能需求。

可選配件支持：該系列儀器提供可選的光學(xué)變焦組，搭配使用后可對(duì)更小的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，擴(kuò)大了儀器在細(xì)微缺陷識(shí)別場(chǎng)景中的適用范圍。

3. 與傳統(tǒng)超聲檢測(cè)（UT）的差異：彌補(bǔ)檢測(cè)盲區(qū)

在檢測(cè)范圍與側(cè)重點(diǎn)上，MIV-X 與傳統(tǒng)超聲波檢測(cè)（UT）形成有效互補(bǔ)，重點(diǎn)彌補(bǔ)了 UT 難以檢測(cè)的區(qū)域，尤其擅長表面和近表面區(qū)域的缺陷檢測(cè)。

傳統(tǒng)超聲檢測(cè)在部分表面、近表面缺陷識(shí)別中存在局限，而 MIV-X 可將肉眼無法確認(rèn)的裂縫、空隙、剝離等隱藏缺陷轉(zhuǎn)化為可視化圖像，讓這些以往容易被忽略的問題得到清晰呈現(xiàn)，為材料檢測(cè)提供更全面的視角。

4. 應(yīng)用領(lǐng)域：覆蓋多行業(yè)檢測(cè)需求

憑借對(duì)近表面缺陷的識(shí)別能力，MIV-X 在多個(gè)行業(yè)的檢測(cè)場(chǎng)景中都能發(fā)揮作用：

可使傳統(tǒng)超聲檢測(cè)難以發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部缺陷（深度約 1mm）實(shí)現(xiàn)可視化，解決了部分材料內(nèi)部淺層缺陷難以檢測(cè)的問題。

在涉及多種材料的研發(fā)過程中，針對(duì)因組合不同材料以增加強(qiáng)度、減輕重量而產(chǎn)生的接頭、粘合表面缺陷，能輕松完成檢測(cè)，為多材料復(fù)合產(chǎn)品的研發(fā)與質(zhì)量把控提供支持。

適用于不同材料的粘接剝落檢測(cè)，以及油漆、熱噴涂、涂層等表面覆蓋層的缺陷檢測(cè)，覆蓋從基礎(chǔ)材料到表面處理層的多維度檢測(cè)需求。

島津超聲波光學(xué)探傷儀 MIV-X 通過技術(shù)、簡(jiǎn)便的操作與廣泛的適用性，為材料缺陷檢測(cè)提供了新的解決方案，尤其在近表面、細(xì)微缺陷識(shí)別場(chǎng)景中，為各行業(yè)的質(zhì)量控制與研發(fā)工作提供了有力支持，推動(dòng)材料檢測(cè)朝著更直觀、更全面的方向發(fā)展。

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