貴金屬元素分析儀專門針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。

Ux-6200貴金屬元素分析儀專門針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，其分辨率為149±5eV，運(yùn)用于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)水平。

貴金屬元素分析儀專門針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，運(yùn)用于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。

貴金屬元素分析儀UX-6200本儀器專門針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，其分辨率為149±5eV，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素。

貴金屬元素分析儀專門針對(duì)貴金屬測(cè)試，采用的科技分析X熒光光譜，對(duì)貴金屬成份進(jìn)行無(wú)損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測(cè)器，運(yùn)用*于的基本參數(shù)法，能夠準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素，其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。

X熒光重金屬元素分析儀E-max基于HDXRF技術(shù)，可快速準(zhǔn)確定量分析土壤中鎘等重金屬元素，其*越檢測(cè)性能可以滿足中國(guó)農(nóng)用土壤監(jiān)管法規(guī)要求（GB15618-2018），檢出限輕松應(yīng)對(duì)鎘元素的法規(guī)限值0.3mg/kg。