貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內*水平。

Ux-6200貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內水平。

貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內*水平。

貴金屬元素分析儀UX-6200本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素。

貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數法，能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素，其穩定性和可靠性均處于業內*水平。

X熒光重金屬元素分析儀E-max基于HDXRF技術，可快速準確定量分析土壤中鎘等重金屬元素，其*越檢測性能可以滿足中國農用土壤監管法規要求（GB15618-2018），檢出限輕松應對鎘元素的法規限值0.3mg/kg。